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輻射的知識(shí)
一、輻射防護(hù)基本概念
1.β射線與物質(zhì)的相互作用:
(1)電子的能量損失:
a. 電離損失——快電子通過(guò)靶物質(zhì)時(shí),與原子的核外電子發(fā)生非彈性碰撞,使物質(zhì)原子電離或激發(fā),因而損失其能量,這與重帶電粒子情況相類似。電離損失(電子碰撞能量損失)是β射線在物質(zhì)中損失能量的重要方式。
b. 輻射損失——這是β粒子與物質(zhì)原子的原子核非彈性碰撞時(shí)產(chǎn)生的一種能量損失。當(dāng)帶電粒子接近原子核時(shí),速度迅速減低,會(huì)發(fā)射出電磁波(光子),這種電磁輻射叫軔致輻射。
?。?/span>2)電子的散射;
β粒子與靶物質(zhì)原子核庫(kù)侖場(chǎng)作用時(shí),只改變運(yùn)動(dòng)方向,而不輻射能量,這種過(guò)程稱為彈性散射。由于電子的質(zhì)量小,因而散射角度很大(與α粒子相比,β粒子的散射要大得多),而且會(huì)發(fā)生多次散射,后偏離原來(lái)的運(yùn)動(dòng)方向。同時(shí),入射電子能量越低,及靶物質(zhì)的原子序數(shù)越大,散射也就越厲害。β粒子在物質(zhì)中經(jīng)過(guò)多次散射其后的散射角大于90°,這種散射成為反散射。
?。?/span>3) β射線的射程和吸收;
2.γ射線與物質(zhì)的相互作用:
?。?/span>1)光電效應(yīng)——γ光子與靶物質(zhì)原子相互作用,γ光子的全部能量轉(zhuǎn)移給原子中的束縛電子,使這些電子從原子中發(fā)射出來(lái),γ光子本身消失。
?。?/span>2)康普頓效應(yīng)(又稱康普頓散射)——入射γ光子與原子的核外電子發(fā)生非彈性碰撞,光子的一部分能量轉(zhuǎn)移給電子,使它反沖出來(lái),而光子的運(yùn)動(dòng)方向和能量都發(fā)生都發(fā)生了變化,成為散射光子。
(3)電子對(duì)效應(yīng)——γ光子與靶物質(zhì)原子的原子核庫(kù)侖場(chǎng)作用,光子轉(zhuǎn)化為正-負(fù)電子對(duì)。
?。?/span>4)相干散射——低能光子(hν<<m0c2>與束縛電子之間的彈性碰撞,而靶原子保持它的初始狀態(tài)。碰撞后的光子能量不變,即電磁波波長(zhǎng)不變,稱湯姆遜散射或相干散射。
?。?/span>5)光致核反應(yīng)——大于一定能量的γ光子與物質(zhì)原子的原子核作用,能發(fā)射出粒子,例如(γ,n)反應(yīng)。但這種相互作用的大小與其它效應(yīng)相比是小的,所以忽略不計(jì)。
(6)核共振反應(yīng)——入射光子把原子核激發(fā)到激發(fā)態(tài),然后退激時(shí)再放出γ光子。
★ 探測(cè)器分類
幾 類 探 測(cè) 器 | 氣體探測(cè)器 | 電離室 | 脈沖電離室 |
電流電離室 | |||
累計(jì)電離室 | |||
正比計(jì)數(shù)器 | |||
G-M計(jì)數(shù)管 | |||
閃爍探測(cè)器 | NaI(Tl)單晶γ譜儀 | ||
半導(dǎo)體探測(cè)器 | 金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器 | ||
高純鍺(HPGe)探測(cè)器 | |||
鋰漂移硅探測(cè)器 | |||
原子核乳膠 | |||
固體徑跡探測(cè)器 | |||
氣泡室 | |||
火花放電室 | |||
多絲正比室 | |||
切倫科夫計(jì)數(shù)器 | |||
熱釋光探測(cè)器 |
3.氣體探測(cè)器
特點(diǎn):以氣體為探測(cè)介質(zhì)。
歷史:在核物理發(fā)展的早期,它們?cè)?jīng)是應(yīng)用廣的探測(cè)器,50年代以后,由于閃爍計(jì)數(shù)器和半導(dǎo)體探測(cè)器的發(fā)展,才逐步被取代。
優(yōu)點(diǎn):制備簡(jiǎn)單,性能可靠,成本低廉,使用方便等。
氣體探測(cè)器是利用收集輻射在氣體中產(chǎn)生的電離電荷來(lái)歷探測(cè)輻射的探測(cè)器。因此,探測(cè)器也就是離子的收集器。它通常是由高壓電極和收集電極組成,常見(jiàn)的是兩個(gè)同軸的圓柱形電極,兩個(gè)電極由絕緣體隔開(kāi)并密封于容器內(nèi)。電極間充氣體并外加一定的電壓。輻射使電極間的氣體電離,生成的電子和正離子在電場(chǎng)作用下漂移,后收集到電極上。電子和正離子生成后,由于靜電感應(yīng),電極上將感生電荷,并且隨它們的漂移而變化。于是,在輸出回路中形成電離電流,電流的強(qiáng)度決定于被收集的離子對(duì)數(shù)。
電流電離室記錄大量輻射粒子平均效應(yīng),主要用于測(cè)量X,γ,β和中子的強(qiáng)度或通量、劑量或劑量率。它是劑量監(jiān)測(cè)和反應(yīng)堆控制的主要傳感元件。
累計(jì)電離室
電離室的大小和形狀,室壁和電極的材料以及所充的氣體成分、壓強(qiáng)都要根據(jù)輻射的性質(zhì)、實(shí)驗(yàn)的要求來(lái)確定。例如,測(cè)量α粒子能量的電離室,須要足夠大的容積和氣壓,以便使α粒子的徑跡都落在靈敏區(qū)內(nèi)。對(duì)γ射線強(qiáng)度作相對(duì)測(cè)量時(shí),為了提高靈敏度,室壁材料宜用高原子序數(shù)的金屬,其厚度略大于室壁中次級(jí)電子的射程。作γ劑量測(cè)量時(shí),須用與空氣或生物組織等價(jià)的材料作電極和室壁。
脈沖電離室所能記錄的帶電粒子數(shù)目不能過(guò)大,否則脈沖將重疊,甚至無(wú)法分辨。因此,在大量入射粒子的情況下,只能由平均電離電流或累積的總電荷來(lái)測(cè)定射線的強(qiáng)度,即電流電離室和累計(jì)電離室。
4.閃爍探測(cè)器
核輻射與某些透明物質(zhì)相互作用,會(huì)使其電離、激發(fā)而發(fā)射熒光,閃爍探測(cè)器就是利用這一特性來(lái)工作的。閃爍探測(cè)器由閃爍體、光電倍增管和相應(yīng)的電子儀器三個(gè)主要部分組成。閃爍計(jì)數(shù)器在核輻射探測(cè)中是應(yīng)用較廣泛的一種探測(cè)器,就其應(yīng)用歸結(jié)為四類:①能譜測(cè)量;②強(qiáng)度測(cè)量;③時(shí)間測(cè)量;④劑量測(cè)量。其中,劑量測(cè)量是強(qiáng)度和能量測(cè)量的結(jié)合。在這些測(cè)量中遇到的基本問(wèn)題:一是脈沖輸出,二是時(shí)間分辨,三是能量分辨。
閃爍計(jì)數(shù)器的工作可分為五個(gè)相互的過(guò)程:
?。?/span>1)射線進(jìn)入閃爍體,與之發(fā)生相互作用,閃爍體吸收帶電粒子能量而使原子、分子的電離和激發(fā);
(2)受激原子、分子退激時(shí)發(fā)射熒光光子;
(3)利用反射物和光導(dǎo)將閃爍光子盡可能多地收集到光電倍增管的光陰極上,由于光電效應(yīng),光子在光陰極上擊出光電子;
(4)光電子在光電倍增管中倍增,數(shù)量由一個(gè)增加到104-109個(gè),電子流在陽(yáng)極負(fù)載上產(chǎn)生電信號(hào);
?。?/span>5)此信號(hào)由電子儀器記錄和分析。
國(guó)產(chǎn)ST-型閃爍體主要用途一覽表:
類 型 | 型 號(hào) | 主要用途 |
NaI(Tl) | ST-101 ST-102 ST-103 ST-104 ST-105 | 測(cè)量γ射線強(qiáng)度、能譜 測(cè)量低能γ或X射線 加大立體角測(cè)量γ射線 測(cè)較高能量的γ射線 反符合屏蔽、低本底測(cè)量 |
CsI(Tl) | ST-121 ST-122 | 測(cè)量α、β、γ,脈沖形狀甄別γ場(chǎng)中 測(cè)量α、X射線 |
ZnS(Ag) | ST-201 ST-202 ST-203 ST-206 ST-207 ST-211 ST-212 | γ場(chǎng)中測(cè)量α場(chǎng)度 測(cè)量氡及其子體 測(cè)量氡及其子體 測(cè)量快中子強(qiáng)度 測(cè)量快中子強(qiáng)度 測(cè)量熱中子和慢中子強(qiáng)度 測(cè)量熱中子和慢中子強(qiáng)度 |
塑 料 | ST-401 ST-402 ST-406 ST-407 ST-1421 ST-1422 | γ、β、快中子 強(qiáng)γ場(chǎng)下測(cè)量β 測(cè)γ射線的劑量,X射線 監(jiān)測(cè)α、β強(qiáng)度 γ、快中子,高發(fā)光效率 快時(shí)間測(cè)量 |
液 體 | ST-451 | 用于n-γ分辨探測(cè)快中子 |
蒽晶體 | ST-501 | α、β、γ、快中子,比較標(biāo)準(zhǔn) |
對(duì)聯(lián)三苯 | ST-551 | 低能β射線,強(qiáng)γ場(chǎng)中測(cè)量β |
鋰玻璃 | ST-601 ST-602 | 測(cè)量α能譜 測(cè)量熱中子到中能中子的強(qiáng)度 |
當(dāng)核輻射的能量全部耗盡在閃爍體內(nèi)時(shí),即當(dāng)A=1時(shí),探測(cè)器輸出脈沖幅度與入射粒子能量成正比,因此根據(jù)對(duì)脈沖幅度譜的分析來(lái)測(cè)定核粒子的能譜。目前,測(cè)量帶電粒子(電子或重帶電粒子)能譜大都應(yīng)用半導(dǎo)體探測(cè)器以及磁譜儀。在γ能譜測(cè)量領(lǐng)域,Ge半導(dǎo)體探測(cè)器雖有它突出的優(yōu)點(diǎn),正逐漸被大家采用,但在工業(yè)、醫(yī)學(xué)等應(yīng)用領(lǐng)域中,以及在某些核物理實(shí)驗(yàn)中,閃爍譜儀,特別是NaI(Tl)單晶γ譜儀仍有相當(dāng)廣泛的用途。
5.半導(dǎo)體探測(cè)器
自從60年代有商品生產(chǎn)的半導(dǎo)體探測(cè)器以后,這種探測(cè)器得到了迅速的發(fā)展。它的工作原理類似于氣體電離室,而探測(cè)介質(zhì)是半導(dǎo)體材料。它的主要優(yōu)點(diǎn)是:
?。?/span>1)電離輻射在半導(dǎo)體介質(zhì)中產(chǎn)生一對(duì)電子、空穴對(duì)平均所需能量大約為在氣體中產(chǎn)生一對(duì)離子對(duì)所需能量的十分之一,即同樣能量的帶電粒子在半導(dǎo)體中產(chǎn)生的離子對(duì)數(shù)要比在氣體中產(chǎn)生的約多一個(gè)量級(jí),因而電荷數(shù)的相對(duì)統(tǒng)計(jì)漲落也就小得多,所以半導(dǎo)體探測(cè)器的能量分辨率很高;
(2)帶電粒子在半導(dǎo)體中形成的電離密度要比在一個(gè)大氣壓的氣體中形成的高,大約為三個(gè)量級(jí),所以當(dāng)測(cè)高能電子或γ射線時(shí)半導(dǎo)體探測(cè)器的尺寸要比氣體探測(cè)器小得多,因而制成高空間分辨和快時(shí)間響應(yīng)的探測(cè)器;
?。?/span>3)測(cè)量電離輻射的能量時(shí),線性范圍寬。
半導(dǎo)體探測(cè)器的主要缺點(diǎn)是:
(1)對(duì)輻射損傷較靈敏,受強(qiáng)輻照后性能變差;
?。?/span>2)常用的鍺探測(cè)器,需要在低溫(液氮)條件下工作,甚至要求在低溫下保存,使用不便。
半導(dǎo)體探測(cè)器廣泛地應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域的射線能譜測(cè)量。近年來(lái)又受到高能物理工作者的重視,在高位置分辨的粒子徑跡探測(cè)器方面有了突破性的發(fā)展。
6.有關(guān)核探測(cè)器
★電流電離室
主要指標(biāo):
?。?/span>1)飽和特性;
?。?/span>2)靈敏度——以單位強(qiáng)度的射線輻照下輸出的電離電流來(lái)量度。靈敏度與輻射的能量有關(guān),它隨能量的變化稱為能量響應(yīng)。
(3)線性范圍——指電離室輸出電流與輻射強(qiáng)度保持線性關(guān)系的范圍。
?。?/span>4)暗電流——脈沖探測(cè)器沒(méi)有放射源時(shí)探測(cè)器輸出的電流。
★正比計(jì)數(shù)器
優(yōu)點(diǎn)(與電離室相比):
(1)脈沖幅度較大;
?。?/span>2)靈敏度較高;
(3)乃沖幅度幾乎與原電離的地點(diǎn)無(wú)關(guān)。
缺點(diǎn):脈沖幅度隨工作電壓變化較大,且容易受外來(lái)電磁干擾,因此,對(duì)電源的穩(wěn)定度要求也較高(≤0.1%)。
★ G-M計(jì)數(shù)器
在核物理發(fā)展的早期G-M計(jì)數(shù)器曾是使用廣的輻射探測(cè)器。至今,在放射性同位素應(yīng)用和劑量監(jiān)測(cè)工作中,仍是常用的探測(cè)元件。
分類(按充氣的性質(zhì)):
(1)充純單原子或雙原子分子氣體——如惰性氣體或H2,N2等,稱為非自熄計(jì)數(shù)器,它使用不方便,很少采用了。
(2)充單原子分子與多原子分子的混合氣體或純多原子分子氣體——稱為自猝熄計(jì)數(shù)器。按猝熄氣體又可分為有機(jī)自猝熄和鹵素自猝熄計(jì)數(shù)器。
G-M計(jì)數(shù)管的特性:
?。?/span>1)坪曲線;
a.起始電壓; b.坪斜; c.坪長(zhǎng)。
(2)死時(shí)間、恢復(fù)時(shí)間和分辨時(shí)間;
?。?/span>3)計(jì)數(shù)管的探測(cè)效率;
?。?/span>4)計(jì)數(shù)管的壽命;
(5)計(jì)數(shù)管的溫度效應(yīng)。
G-M計(jì)數(shù)器探測(cè)射線的優(yōu)點(diǎn):
(1)靈敏度高;
(2)脈沖幅度大;
(3)穩(wěn)定性高;
?。?/span>4)計(jì)數(shù)器的大小和幾何形狀可按探測(cè)粒子的類型和測(cè)量的要求在較大的范圍內(nèi)變動(dòng);
?。?/span>5)使用方便、成本低廉、制作的工藝要求和儀器電路均較簡(jiǎn)單。
缺點(diǎn):
?。?/span>1)不能鑒別粒子的類型和能量;
(2)分辨時(shí)間長(zhǎng),約102μs,不能進(jìn)行快速計(jì)數(shù);
(3)正常工作的溫度范圍較?。u素管略大些);?。?/span>4)有亂真計(jì)數(shù)。
★ NaI(Tl)單晶γ譜儀
組成單元:
?。?/span>1)閃爍探頭;
?。?/span>2)高壓電源;
(3)線性放大器;
(4)脈沖幅度分析器。
★金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器
主要用于測(cè)量短射程的帶電粒子的能譜。它的時(shí)間響應(yīng)速度與閃爍探測(cè)器差不多,所以可用來(lái)作定時(shí)探測(cè)器。它的本底很低,適于作低本底測(cè)量。
優(yōu)點(diǎn):
?。?/span>1)能量分辨率高;(2)設(shè)備簡(jiǎn)單;(3)使用方便。
缺點(diǎn):靈敏體積不能做得很大,因而限制了大面積放射源的使用。
★高純鍺(HPGe)探測(cè)器
靈敏區(qū)比金硅面壘探測(cè)器厚,可用它探測(cè)β或γ射線的能譜。主要用于測(cè)量中、高能的帶電粒子(能量低于220 MeV的α粒子,低于60MeV的質(zhì)子和能量低于10MeV的電子)和能量在300keV至600keV的X射線和低能γ射線。
主要性能:
?。?/span>1)能量分辨率;HPGe探測(cè)器主要用于測(cè)量γ射線的能譜,其能量分辨率較高;
?。?/span>2)探測(cè)效率;a.峰探測(cè)效率εp
b.相對(duì)效率;
?。?/span>3)峰康比與峰形狀;
?。?/span>4)電荷收集和時(shí)間特性;
?。?/span>5)中子輻照損傷。
★鋰漂移硅探測(cè)器
主要是用于低能γ射線和X射線的測(cè)量。在以上三種半導(dǎo)體探測(cè)器中,它的靈敏區(qū)厚。近年來(lái)雖然Ge(Li)探測(cè)器已被HPGe探測(cè)器所取代,然而Si(Li)仍然起著重要作用。
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